Transmisyjny mikroskop elektronowy JEM-2010 ARP jest przeznaczony do badań mikro- i nanostruktury materiałów, analizy dyfrakcyjnej i mikroanalizy składu chemicznego. 

Parametry techniczne: 
napięcie przyspieszające 200 kV, liniowa zdolność rozdzielcza 0.194 nm, katoda LaB6, wysokorozdzielcza kamera CCD GATAN Orius, przystawka skaningowo-transmisyjna STEM, energodyspersyjny spektrometr rentgenowski EDS z systemem mikroanalizy INCA firmy Oxford Instrumens.


pra19

 

<--wstecz