Drukuj

Zakres badań

• Ilościowa charakterystyka makro- mikro- i nanostruktury materiałów metodami mikroskopii świetlnej i elektronowej (także w skali atomowej)

• Badania materiałów metodami tomografii elektronowej: obrazowanie mikro- i nanostruktury materiałów w przestrzeni trójwymiarowej; metrologia

• Badanie pól elektrycznych i magnetycznych metodami holografii elektronowej

• Badania powierzchni materiałów metodami mikroskopii sił atomowych

• Badania właściwości fizycznych / właściwości mechanicznych materiałów
  

Materiały

  • Materiały dla energetyki i lotnictwa:

→   Nadstopy niklu,

→   Stopy tytanu i aluminium,

→   Stopy na osnowie faz międzymetalicznych (intermetale)   

→   Stopy do pracy w ekstremalnych warunkach (stopy wolframu, stale/stopy

      ODS)

→   Stale i staliwa


  • Materiały gradientowe i wielowarstwowe:

→   Funkcjonalne materiały gradientowe   

→   Materiały wielowarstwowe: odporne na erozję i zużycie przez tarcie;

      materiały żaroodporne    


  • Biomateriały

→   Nanostrukturalna modyfikacja powierzchni implantów

→   Biomateriały metaliczne   

→   Stopy z pamięcią kształtu   

→   Materiały na rusztowanie komórkowe   


  • Inne materiały

→   Nanomateriały    

→   Nowoczesne materiały ceramiczne   

→   Złożone związki międzymetaliczne CMA   

→   Kompozyty metalowo-ceramiczne

→   Nowoczesne materiały magnetyczne (materiały GMR o gigantycznym

      magnetooporze)  

→   Polimery

Metody badań

  

 

→  Ilościowa charakteryzacja mikrostruktury materiałów metodami analitycznej mikroskopii elektronowej, także w skali atomowej:     

-  Analiza mikrostruktury i pomiar parametrów mikrostruktury z wykorzystaniem różnych metod obrazowania i metod dyfrakcyjnych    

-  Analiza mikrostruktury z rozdzielczością w skali atomowej z wykorzystaniem obrazów STEM-HAADF z korekcją aberracji sferycznej     

-   Mapy orientacji i mapy fazowe nanoobszarach  

→  Analiza dyfrakcyjna: Selektywna dyfrakcja elektronów (SAED); Dyfrakcja zbieżnej wiązki (CBED); Mikro- i nanodyfrakcja (μD, NBD); Precesja dyfrakcji elektronów (PED)    

→  Identyfikacja faz w materiałach wielofazowych i wielowarstwowych metodami dyfrakcyjnymi i spektroskopowymi wspomaganymi programami komputerowymi    

→  Wysokorozdzielcza mikroskopia elektronowa (HRTEM)  

→  Analiza składu chemicznego faz (jakościowa i ilościowa) metodami spektroskopowymi:    

-    energii charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego (EDX) wraz z możliwością zbierania map rozmieszczenia pierwiastków w skali atomowej   

-    spektrometria strat energii elektronów (EELS)

-     mapy rozmieszczenia pierwiastków  z wykorzystaniem filtra energii elektronów (EFTEM)

→  Badanie pól elektrycznych i magnetycznych w nanoskali z zastosowaniem metod holografii elektronowej; mikroskopia Lorentza  

  • Tomografia elektronowa (HAADF, EFTEM, EDX) i tomografia FIB-SEM do rekonstrukcji trójwymiarowych obrazów mikro- i nanostruktury materiałów, metrologia

→  JEMS, Digital Micrograph, AnalySIS 3.2, Aphelion, ImageJ, Avizo Fire 6 i innych

  • Mikroskopia sił atomowych
  • Komputerowa analiza obrazu z wykorzystaniem programów:

    • Badania właściwości mechanicznych

    • Badania nieniszczące

  →     Ultradźwiękowe  

  →     Wiroprądowe   

  →     Emisji akustycznej 

<--wstecz

FaLang translation system by Faboba