Zakres badań
- Ilościowa charakterystyka makro- mikro- i nanostruktury materiałów metodami mikroskopii świetlnej i elektronowej (także w skali atomowej)
- Badania materiałów metodami tomografii elektronowej: obrazowanie mikro- i nanostruktury materiałów w przestrzeni trójwymiarowej; metrologia
- Badanie pól elektrycznych i magnetycznych metodami holografii elektronowej
- Badania powierzchni materiałów metodami mikroskopii sił atomowych
- Badania właściwości fizycznych / właściwości mechanicznych materiałów
Materiały
Materiały dla energetyki i lotnictwa:
→ Nadstopy niklu,
→ Stopy tytanu i aluminium,
→ Stopy na osnowie faz międzymetalicznych (intermetale)
→ Stopy do pracy w ekstremalnych warunkach (stopy wolframu, stale/stopy ODS)
→ Stale i staliwa
Materiały gradientowe i wielowarstwowe:
→ Funkcjonalne materiały gradientowe
→ Materiały wielowarstwowe: odporne na erozję i zużycie przez tarcie;
→ Materiały żaroodporne
Biomateriały
→ Nanostrukturalna modyfikacja powierzchni implantów
→ Biomateriały metaliczne
→ Stopy z pamięcią kształtu
→ Materiały na rusztowanie komórkowe
Inne materiały
→ Nanomateriały
→ Nowoczesne materiały ceramiczne
→ Złożone związki międzymetaliczne CMA
→ Kompozyty metalowo-ceramiczne
→ Nowoczesne materiały magnetyczne (materiały GMR o gigantycznym magnetooporze)
→ Polimery
Metody badań
- Mikroskopia świetlna (LM), metalografia ilościowa
- Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), fraktografia
- Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM)
Ilościowa charakteryzacja mikrostruktury materiałów metodami analitycznej mikroskopii elektronowej, także w skali atomowej:
- Analiza mikrostruktury i pomiar parametrów mikrostruktury z wykorzystaniem różnych metod obrazowania i metod dyfrakcyjnych
- Analiza mikrostruktury z rozdzielczością w skali atomowej z wykorzystaniem obrazów STEM-HAADF z korekcją aberracji sferycznej
- Mapy orientacji i mapy fazowe nanoobszarach
→ Analiza dyfrakcyjna: Selektywna dyfrakcja elektronów (SAED); Dyfrakcja zbieżnej wiązki (CBED); Mikro- i nanodyfrakcja (μD, NBD); Precesja dyfrakcji elektronów (PED)
→ Identyfikacja faz w materiałach wielofazowych i wielowarstwowych metodami dyfrakcyjnymi i spektroskopowymi wspomaganymi programami komputerowymi
→ Wysokorozdzielcza mikroskopia elektronowa (HRTEM)
→ Analiza składu chemicznego faz (jakościowa i ilościowa) metodami spektroskopowymi:
- energii charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego (EDX) wraz z możliwością zbierania map rozmieszczenia pierwiastków w skali atomowej
- spektrometria strat energii elektronów (EELS)
- mapy rozmieszczenia pierwiastków z wykorzystaniem filtra energii elektronów (EFTEM)
→ Badanie pól elektrycznych i magnetycznych w nanoskali z zastosowaniem metod holografii elektronowej; mikroskopia Lorentza
Tomografia elektronowa (HAADF, EFTEM, EDX) i tomografia FIB-SEM do rekonstrukcji trójwymiarowych obrazów mikro- i nanostruktury materiałów, metrologia
→ JEMS, Digital Micrograph, AnalySIS 3.2, Aphelion, ImageJ, Avizo Fire 6 i innych
Mikroskopia sił atomowych
Komputerowa analiza obrazu z wykorzystaniem programów:
Badania właściwości mechanicznych
Badania nieniszczące
→ Ultradźwiękowe
→ Wiroprądowe
→ Emisji akustycznej
Badania biomateriałów